測定機器

電磁膜厚計(M70E-373K)

過電流膜厚計(M70H-373K)

デュアルタイプ膜厚計(M70Z-373K)

小型ボディに多機能を凝縮。

M70E-373Kは磁性金属上のメッキ(電解ニッケルメッキは除く)や塗装などの非磁性被膜厚を測定する膜厚計です。

M70H-373Kは非磁性金属上の絶縁被膜厚を測定する膜厚計で、アルマイトなどの比較的に薄い被膜厚を測定する
ことができます。
M70Z-373Kは磁性金属上および非磁性金属上の被膜厚の測定ができるデュアルタイプの膜厚計です。
膜厚計373Kシリーズは多様な素材、多様な被膜を扱う現場用として最適です。
どのモデルもプリンタやコンピューターにデータを転送することができ、アプリケーション(検量線)メモリ機能、測定デ
ータ・メモリ、膜厚管理の上下限値設定、簡単な統計処理、データ出力など16種の機能を装備しています。
プリンタや測定スタンド、外部出力ケーブル、データ管理ソフトウェアなどのオプションも充実しています。

●小型・軽量のコンパクトボディ。
大きさは幅75mm、長さ145mm、厚さ31mm、質量340g。
片手に入る大きさですから、測定現場でも手軽に使用できます。

●多機能を搭載。
通常の膜厚管理で必要とする機能を網羅し装備しています。
アプリケーション選択、素地補正、データ削除、データメモリ、上下限設定、統計計算(測定回数・平均値・標準偏差・
最大値・最小値)、表示選択、日付・時刻、自動off時間、バックライト明るさ、バックライト時間、単位、データ出力、自
動ロット区分、測定方法、メンテナンスモードなどの16機能を必要に応じ設定することが可能です。

●オプションも充実。
オプションの測定スタンド(M70W-990K)を利用すると、パイプなどの測りにくい局面の測定が容易になり、また通常
の平面の測定でも繰り返し誤差や個人誤差を最小に抑え込むことができます。
オプションプリンタ(M70Z-380K)に接続することで、測定値、統計計算結果、ロット番号、日付けなどをプリントアウト
することができます。
データ管理ソフトウェアの「データロガー(M70DL-03K)」や、「McWAVEシリーズ」を併せてご利用いただくことで、
データをMS Excel形式で保存したり、測定データの編集や各種管理図の作成も可能となります。
(McWAVEシリーズはCEC社の、MS ExcelはMicrosoft社の商標です。)

●373Kシリーズは膜厚管理を必要とする多くの現場での活躍が期待されています。

■373Kシリーズの測定画面と16種の機能設定画面(表示部は実器の画面ではなく、画面イメージです)

●M70DE-03K/M70DZ-03Kの測定画面 ロット・データNo.を表示した例	●M70DH-03K/M70DZ-03Kの測定画面 日付・時間を表示した例	●アプリケーション選択 アプリケーション(検量線)メモリの呼び出し
●上下限設定 測定管理の上下限値の設定	●統計計算 最大値・最小値・標準偏差・平均値	●表示選択 日付・時間かロット・データNo.を選択
●バックライト時間 バックライト点灯時間設定	●単位 表示単位の切り替え	●データ出力 データ外部出力の設定
●素地補正 素地の材質・形状・厚さ等による特性補正	●データ削除 個々のデータ、全データ削除	●データメモリ 測定データの保存、非保存
●日付・時刻 日付と時刻の設定	●自動Off時間 自動電源Offまでの時間設定	●バックライト明るさ バックライトの明度設定
●自動ロット区分 統計計算時にロット区分する設定	●測定方法 測定値を固定表示か連続表示にする設定	●メンテナンスモード メーカーメンテナンス時等に使用

■測定原理
●電磁誘導式(M70DE-03K、M70DZ-03KのFeプローブ)
交流電磁石を鉄(磁性金属)に接近させると、接近距離になって、コイルを貫く磁束数が変化し、
そのためコイル両端にかかる電圧が変化します。
この電圧変化を電流値から読み取り、膜厚に換算したのが電磁式膜厚計で、
磁性金属上の非磁性被膜の測定用です。

●渦電流式(M70DH-03K、M70DZ-03KのNFeプローブ)
一定の高周波電流を流した誘導コイルを金属に近づけると、金属表面上に渦電流が生じます。
この渦電流は誘導コイルと金属面との距離に応じて変化し、そのため誘導コイル両端にかかる電圧も変化します。
この変化を電流値から読み取り、膜厚に換算したのが渦電流式膜厚計で、
非磁性金属上の絶縁被膜の測定用です。

●付属標準板(ポリエステル フィルム)
・M70DE-03K：10μm・50μm・100μm・500μm・1000μm・1500μmの6種
・M70DZ-03K：10μm・50μm・100μm・500μm・1000μm・1500μmの6種
・M70DH-03K：10μm・50μm・100μm・500μm・1000μmの5種
●付属の標準板は必ずしも上記と同じ値ではなく、実測した近似値のものとなっています。

●プローブ寸法


■タイプ

●電磁膜厚計(M70E-373K) M70E-373Kは磁性体上のメッキ(電解ニッケルメッキは除く)・塗装などの被膜厚を測定する膜厚計です。プリンタやコンピュータにデータを転送することができ、アプリケーションメモリ(検量線メモリ)機能、測定データメモリ、膜厚管理の上下限設定、簡単な統計処理、データ出力など16種の機能を装備しています。	●過電流膜厚計(M70H-373K) M70H-373Kは非磁性金属上の絶縁被膜厚を測定する膜厚計です。アルマイトなどの比較的に薄い被膜厚を精度良く測定することができます。付加機能はM70E-373Kと同様でプリンタやコンピュータへのデータ転送、測定回数、平均値、最大最小値、標準偏差などの簡単な統計処理が可能です。	●デュアルタイプ膜厚計(M70Z-373K) M701Z-373Kは磁性体および非磁性金属上の被膜厚の測定ができるデュアルタイプの膜厚計です。多様な素材、多様な被膜を扱う現場用として最適な膜厚計です。プリンタやコンピュータへのデータ転送、測定回数、平均値、最大最小値、標準偏差などの簡単な統計処理や、16種類もの不可機能を装備しています。

■仕様

プリンター(M70Z-380K)	膜厚計用測定スタンド(M70W-990K)
データロガーソフト(M70DL-03K)	データ管理ソフトウェア「McWAVEシリーズ」

●プリンター M70Z-380Kのプリントアウト例