測定機器

■特徴
●コンパクトな設計ながら高精度/高分解能で各種コーティング材の膜厚を測定できます。
●磁気誘導プローブは磁性体の本体に非磁性体がコーティングされている場合のコーティング厚を計ります。
●渦電流プローブは非磁性体の本体に絶縁体のコーティングがされている場合のコーティング厚を計ります。
●6種類のオプションプローブを使用することでいろいろな用途に使用できます。
●連続的測定もシングル測定も可能です。
●直接測定とバッチ測定の2つの測定モード
●5種類の統計が取れます。
平均値（MEAN）、最大値（MAX）、最小値（MIN）、測定データ数（NO）および標準偏差（S.DEV）
●2種類の校正方法
●バックライト付き
●640測定データの記録
●プリンタ内蔵
●電圧低下表示
●オートパワーオフ機能

■プローブタイプ

タイプ		F	N
測定方法		磁気誘導	渦電流
コーティング		非磁性材料	非導体
基板（ベース）		磁性材料	非磁製金属
測定範囲		0～1250μm	0～1250μm 0～40μm（銅上のクロム板用）
最小分解能		0.1μm
公差※	ゼロ点校正	±（3％H+1）μm	±（3％H+1.5）μm
		±[（1～3）％H+1]μm	±[（1～3）％H+1.5]μm
測定条件	最小曲率半径	コンベクシティ1.5mm	コンベクシティ3mm
	最小試験面積直径	φ7mm	φ5mm
	基材の臨界厚さ	0.5mm	0.3mm
備考

※Hは試験片の厚さを意味する


■仕様

品番		M2700TM-3711T
プローブタイプ		F
測定方法		磁気誘導
測定範囲		0～1250μm
最小分解能		0.1μm
公差※	ゼロ点校正	±（3％H+1）μm
		±[（1～3）％H+1]μm
測定条件	最小曲率半径	コンベクシティ1.5mm
	最小試験面積直径	φ7mm
	基材の臨界厚さ	0.5mm
規格		DIN、ISO、ASTM、BS
校正		ゼロおよびフォイル校正
インタフェース		RS232
統計		測定数、平均、標準偏差、最大値および最小値
データメモリ		640件
測定限界		アラーム付きで調整可能
電源		NiMH充電池
動作環境	温度	0～40℃
	湿度	20％～90％
	その他	強い磁場がない
寸法		230×86×47mm
標準付属品		本体、プローブ（M2700PRB-F1TM）、標準基板、 基準箔校正フォイル、充電器、印刷用紙、 校正証明書、保証カード、取扱説明書

※Hは試験片の厚さを意味する



■オプションプローブ

品番		M2700PRB-F400TM	M2700PRB-F1TM
動作原理		磁気誘導
測定範囲		0-400μm	0～1250
最小分解能		0.1μm	0.1μm
精度※	1点校正	±（3％H+1）μm
	2点校正	±[（1～3）H％+0.7]μm	±[（1～3）H％+1]μm
測定条件	最小曲率半径	凸1mm	1.5mm
	最小試験面積直径	φ3mm	φ7mm
	基材の臨界厚さ	0.2mm	0.5mm

※Hは試験物の厚さ

品番		M2700PRB-F190DGTM	M2700PRB-F10TM
動作原理		磁気誘導
測定範囲		0～1250	0～10000μm
最小分解能		0.1μm	10μm
精度※	1点校正	±（3％H+1）μm	±（3％H+10）μm
	2点校正	±[（1～3）H％+1]μm	±[（1～3）％H+10]μm
測定条件	最小曲率半径	Flatten	10mm
	最小試験面積直径	φ7mm	φ40mm
	基材の臨界厚さ	0.5mm	2mm

※Hは試験物の厚さ

品番		M2700PRB-N1TM	M2700PRB-NCN02TM
動作原理		渦電流
測定範囲		0～1250μm 0～40μm （クロム板用銅の上に）	10～200μm
最小分解能		0.1	1
精度※	1点校正	±（3％H+1.5）μm	±（3％H+1）μm
	2点校正	±[（1～3）％H+1.5]μm	-
測定条件	最小曲率半径	3mm	Flatten
	最小試験面積直径	φ5mm	φ7mm
	基材の臨界厚さ	0.3mm	無制限

※Hは試験物の厚さ