商品詳細
膜厚計
商品番号:M2700IME-2510T
商品説明
■特徴
●2つ測定方式が適用されます:磁気誘導(鉄)と渦電流(非鉄)
●2種類の校正方法:ゼロ点校正と二点校正
●測定方法:連続測定と単一測定
●測定モード:直接測定とバッチ測定
●5種類の統計が取れます:平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値 (MIN)、測定デー タ数(NO)および標準偏差(S.DEV)
●測定基板の自動認識
●500件の測定データを保存できます
●データ削除:現在値データ、校正データなど全データの削除可能
●測定値、統計値をプリンタ(TA230)で印刷することもできます
●電源パワー不足表示機能
●バックライトディスプレー機能
●2種類の電源切断方法:手動/自動
■オプション品
●TA230プリンタ
●通信ケーブル
●Dataviewソフトウェア
■仕様
●2つ測定方式が適用されます:磁気誘導(鉄)と渦電流(非鉄)
●2種類の校正方法:ゼロ点校正と二点校正
●測定方法:連続測定と単一測定
●測定モード:直接測定とバッチ測定
●5種類の統計が取れます:平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値 (MIN)、測定デー タ数(NO)および標準偏差(S.DEV)
●測定基板の自動認識
●500件の測定データを保存できます
●データ削除:現在値データ、校正データなど全データの削除可能
●測定値、統計値をプリンタ(TA230)で印刷することもできます
●電源パワー不足表示機能
●バックライトディスプレー機能
●2種類の電源切断方法:手動/自動
■オプション品
●TA230プリンタ
●通信ケーブル
●Dataviewソフトウェア
■仕様
品番 | M2700IME-2510T | ||
プローブ種類 | F | N | |
測定方式 | 磁気誘導 | 渦電流 | |
測定範囲 | 0-1250 µm | 0-1250 µm, 0-40µm (銅上のクローム 板) |
|
最小分解能 | 0.1µm | ||
操作 誤差 |
ゼロ点校正 | ±(3%H+1) µm | ±(3%H+1.5) µm |
Hは試験物の厚さ | |||
二点校正 | ±{(1-3)%H+1}µm | ±{(1-3)%H+1.5}µm | |
Hは試験物の厚さ | |||
測定条件 | 最小曲率半径 | 凸度1.5mm | 凸度3mm |
最小試験面積直径 | Φ7 mm | Φ5 mm | |
基盤の臨界厚さ | 0.5 mm | 0.3 mm | |
動作環境 | 使用環境温度 : 0℃ - 40℃ 強 | ||
使用環境湿度:20% - 90% | |||
い磁場環境なし | |||
電源 | 単4電池(2個) | ||
寸法(mm) | 110 x 50 x 23 | ||
重さ(g) | 100 |